5月9-11日，第二届光谱技术及应用大会在大连成功举办。电子与电气工程学院司赶上博士受邀参会，并在会场进行了研究报告。此次会议由中国光学工程学会主办，中国光学工程学会光谱技术及应用专业委员会和大连理工大学共同承办。会议吸引了来自全国240所高校、研究院所及企业，超600名代表参加。
会议期间，司赶上博士结合所在课题组的研究方向和成果，在激光拉曼光谱与荧光光谱技术及应用分会场，进行了题为《基于紫外拉曼-荧光光谱技术的粉末样品探测方法研究》的报告。在报告中，他详细介绍了课题组在该研究领域取得的最新进展，展示了一系列创新性的研究成果，获得了与会专家的一致好评。会议期间司赶上还积极与各位专家进行交流，分享我校智能感知与控制工程中心近年来在智能感知领域取得的重要成果，并诚挚邀请各位专家来校指导工作。
本次大会就光谱技术的重要科学问题、仪器发展的关键技术问题、最新研究成果及发展趋势等问题展开研讨。共举办了16场专题研讨会，涉及激光诱导击穿光谱、原子光谱与质谱、激光拉曼光谱与激光荧光光谱、光声光谱与TDLAS、红外及太赫兹光谱、超快及瞬态光谱等技术，以及光谱在环境监测、工业检测等领域的应用。
这次参会不仅展示了我院教师的优秀风采，也拓宽了教师的学术视野，有助于提升学术水平和研究能力。学院将继续鼓励支持教师参加此类学术会议，加强与国内高校院校、企业之间的交流，扩大学院和学科的影响力。（撰稿：司赶上；编辑：毛星懿；审核：王艳春、黄灿）